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Oberflächenanalytik - Übungsaufgabe 14, 15, 18, 19: Fragen zur Oberflächenanalytik - Atome und Ionen als oberflächensensitive Sonden

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(Fachbegriffe) Methoden zur Oberflächenanalyse verwenden oberflächensensitive Sonden. Wenn wir Ionen als Sonden
verwenden, benötigen wir als Detektor ein Massenspektrometer Atome verwenden wir als Sonden z.B. in einem AFM-Mikroskop. Photonen als Sonden in der FTIR-Spektroskopie benötigen einen beweglichen Spiegel (FOURIER-Transformation) und wenn wir Elektronen als Sonden verwenden, benötigen wir bei der Photoelektronenspektroskopie Halbkugel-Analysatoren als Detektoren. (UHV) Sofern eine oberflächensensitive Methode Elektronen oder Ionen benötigt, ist Ultrahochvakuum (UHV) notwendig z.B.
bei SIMS und bei XPS. AFM und FTIR benötigen kein
UHV (Ionisation) Für die Ionisation stehen eine Reihe von Möglichkeiten zur Verfügung: wir können Elektronenstoß-Ionisation verwenden, chemische Ionisation, Laser-Desorptions-Ionisation,
einen Beschuss mit schnellen Atomen (FAB)
Elektrosprayionisation
oder Feldionen-Ionisation . (Massenfilter)
Um in einem Massenspektrometer die Massen voneinander zu trennen, gibt
es verschiedene Methoden. Das klassische Massenspektrometer besitzt ein Sektorfeld, in dem die Ionen getrennt werden. In Quadrupol-Massenfiltern lassen sich
Ionen nach ihrer Masse trennen. Oder wir können die Ionen nach ihrer Flugzeit auftrennen in einem Flugzeit-Massenfilter.
Ionene
Oberflächenanalyse
Massenspektrometer
FT-IR-Spektroskopie
Atom
Elektron <Legierung>
Ionene
Biologisches Material
Photoelektronenspektroskopie
Atom
Massenspektrometrie
Massenspektrometer
Massenspektrometer
Trennverfahren
Ionene
Vorlesung/Konferenz

Metadaten

Formale Metadaten

Titel Oberflächenanalytik - Übungsaufgabe 14, 15, 18, 19: Fragen zur Oberflächenanalytik - Atome und Ionen als oberflächensensitive Sonden
Serientitel Einführung in die Oberflächenanalytik - Übungsaufgaben
Teil 15
Anzahl der Teile 15
Autor Lauth, Günter Jakob
Mitwirkende Lauth, Anika (Medientechnik)
Lizenz CC-Namensnennung - keine kommerzielle Nutzung 3.0 Deutschland:
Sie dürfen das Werk bzw. den Inhalt zu jedem legalen und nicht-kommerziellen Zweck nutzen, verändern und in unveränderter oder veränderter Form vervielfältigen, verbreiten und öffentlich zugänglich machen, sofern Sie den Namen des Autors/Rechteinhabers in der von ihm festgelegten Weise nennen.
DOI 10.5446/15741
Herausgeber Günter Jakob Lauth (SciFox)
Erscheinungsjahr 2013
Sprache Deutsch
Produktionsjahr 2013
Produktionsort Jülich

Inhaltliche Metadaten

Fachgebiet Physik, Chemie

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