Detecting presence of low SNR emission sources Analysis and "analysis" vs deep learning

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Zugehöriges Material

Banff International Research Station (BIRS) for Mathematical Innovation and Discovery

Kuchment, Peter

Formale Metadaten

Titel

Detecting presence of low SNR emission sources Analysis and "analysis" vs deep learning

Alternativer Titel

Detecting presence of emission sources with low SNR. "Analysis" vs deep learning

Serientitel

Reconstruction Methods for Inverse Problems (19w5092)

Anzahl der Teile

Autor

Kuchment, Peter

Lizenz

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Identifikatoren

10.5446/56554 (DOI)

Herausgeber

Banff International Research Station (BIRS) for Mathematical Innovation and Discovery

Erscheinungsjahr

2019

Sprache

Englisch

Inhaltliche Metadaten

Fachgebiet

Informatik Biowissenschaften / Biologie Mathematik Physik Technik

Genre

Workshop/Interaktives Format Vorlesung

Abstract

The talk will discuss the homeland security problem of detecting presence of emission sources at high noise conditions. (Semi-)analytic and deep learning techniques will be compared. This is a joint work with W. Baines and J. Ragusa.